关于缺陷超胞的一些能带反折叠问题
各位老师好，我想请教一下能带反折叠的问题，我使用的结构是超胞2*2*1的CsPbI3，在计算碘空位缺陷时得到的 缺陷晶胞能带反折叠图 与 完美晶胞能带反折叠图 对比，发现缺陷晶胞的能带反折叠图带有很多多出来的能带，在我之前的帖子里也请教过老师，说是由于缺陷引入导致局域晶格畸变和周期性势场破坏，从而导致Bloch特征被部分破坏。但是目前遇到的问题是，当引入的缺陷是浅缺陷态时，无法区分额外多出来的能带究竟是缺陷态能级本身的能带 还是由于 缺陷引入所引起的Bloch特征被破坏导致产生的能带。请问是否有什么可以区分的方法吗？
缺陷态晶胞能带反折叠图带有很多细小的能带。
不是可以提取选择原子的轨道投影吗，VASPKIT-283。 vaspkit 发表于 2023-9-18 16:25
不是可以提取选择原子的轨道投影吗，VASPKIT-283。
感谢老师的回复，您说的生成投影能带的方法我也尝试了，下面是我画的投影反折叠能带图
使用投影能带画图会使Bloch特征被破坏带来的 细小能带的点 变小到可以忽略很多点。
但我还有些不明白的地方，想问下老师。即使使用投影能带画法也没有一种条件去判断多出来的能带是Bloch特征被破坏带来的还是由缺陷态能级自身产生的能带。或者说有没有一个明确的判定条件进行区分？
请问您的问题解决了吗，是如何解决的呢 您好题主这个图像是用什么软件画的，可以分享一下吗？我计算得出了相对应的dat文件 不知道该如何进行画图
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